1. Digital circuit testing and testability

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)

موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance

رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997